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防爆高低溫試驗(yàn)箱/高溫和低溫測(cè)試機(jī)
簡(jiǎn)要描述：
愛(ài)佩公司生產(chǎn)的防爆高低溫試驗(yàn)箱/高溫和低溫測(cè)試機(jī)均可供用戶(hù)編定1000多個(gè)程序做循環(huán)或者交變?cè)囼?yàn)。本試驗(yàn)箱主要用于試驗(yàn)各種材料及產(chǎn)品進(jìn)行高低溫編程循環(huán)、交變、恒定和漸變、突發(fā)、耐寒、耐熱、耐干燥等模擬環(huán)境可靠性試驗(yàn)產(chǎn)品的性能。常用于各類(lèi)工業(yè)產(chǎn)品，如：LED、半導(dǎo)體照明、光電通訊、電子電器、塑膠塑料、航空航天、汽車(chē)零部件、電線電纜、化工涂料、金屬五金、建材等行業(yè)品質(zhì)檢測(cè)及研發(fā)產(chǎn)品之用。
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發(fā)郵件給我們：apkjyzq@foxmail.com愛(ài)佩公司生產(chǎn)的防爆高低溫試驗(yàn)箱/高溫和低溫測(cè)試機(jī)均可供用戶(hù)編定1000多個(gè)程序做循環(huán)或者交變?cè)囼?yàn)。本試驗(yàn)箱主要用于試驗(yàn)各種材料及產(chǎn)品進(jìn)行高低溫編程循環(huán)、交變、恒定和漸變、突發(fā)、耐寒、耐熱、耐干燥等模擬環(huán)境可靠性試驗(yàn)產(chǎn)品的性能。常用于各類(lèi)工業(yè)產(chǎn)品，如：LED、半導(dǎo)體照明、光電通訊、電子電器、塑膠塑料、航空航天、汽車(chē)零部件、電線電纜、化工涂料、金屬五金、建材等行業(yè)品質(zhì)檢測(cè)及研發(fā)產(chǎn)品之用。控制方式與特色：平衡調(diào)溫恒溫控制系統(tǒng)(BTHC)，以P.I.D.方式控制SSR，使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量，故能長(zhǎng)期穩(wěn)定的使用。
| 防爆高低溫試驗(yàn)箱/高溫和低溫測(cè)試機(jī)選型規(guī)格表 | |||||||
| 產(chǎn)品型號(hào) | AP-GD-80A | AP-GD-120A | AP-GD-150A | AP-GD-225A | AP-GD-408A | AP-GD-800A | AP-GD-1000A |
| AP-GD-80B | AP-GD-120B | AP-GD-150B | AP-GD-225B | AP-GD-408B | AP-GD-800B | AP-GD-1000B | |
| AP-GD-80C | AP-GD-120C | AP-GD-150C | AP-GD-225C | AP-GD-408C | AP-GD-800C | AP-GD-1000C | |
| AP-GD-80D | AP-GD-120D | AP-GD-150D | AP-GD-225D | AP-GD-408D | AP-GD-800D | AP-GD-1000D | |
| 容積（L） | 80 | 120 | 150 | 225 | 408 | 800 | 1000 |
| 內(nèi)箱尺寸 (W*H*D)cm | 40*50*40 | 50*60*40 | 50*60*50 | 50*75*60 | 60*85*80 | 100*100*80 | 100*100*100 |
| 外箱尺寸 | 97*136*97 | 107*146*97 | 107*146*107 | 107*161*117 | 117*171*128 | 155*185*130 | 155*185*150 |
| 溫度范圍 | A:0℃～+150℃ B:-20℃～+150℃ C:-40℃～+150℃ D:-70℃～+150℃ | ||||||
| 升溫速率 | A：RT～+150℃ 20min | ||||||
| B：RT～+150℃ 35min | |||||||
| C：RT～+150℃ 40min | |||||||
| D:RT～+150℃ 60min | |||||||
| 降溫速率 | A:RT～-0℃ 20min | ||||||
| BRT～-20℃ 45min | |||||||
| C:RT～-40℃ 50min | |||||||
| D:RT～-70℃ 80min | |||||||
| 溫度波動(dòng)度 | ±0.5℃ | ||||||
| 溫度均勻度 | ±2.0℃ | ||||||
| 電 源 | 1ф3W 220V±10% 或3ф5W380V±10% | ||||||
| 備 注 | 1.以上防爆高低溫試驗(yàn)箱/高溫和低溫測(cè)試機(jī)外尺寸不包含突出部分，產(chǎn)品尺寸可按客戶(hù)要求室做。 2.以上溫度數(shù)據(jù)在室溫時(shí)，負(fù)荷條件下測(cè)得的數(shù)據(jù)。RT指室溫。 | ||||||
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